Laboratórium je vybavené moderným skenovacím elektrónovým mikroskopom JEOL JSM‑IT210 (inštalovaný koncom roka 2025), ktorý predstavuje novú generáciu kompaktných a vysoko automatizovaných SEM systémov. Prístroj umožňuje rýchle a presné zobrazovanie vzoriek vďaka motoricky ovládanému päťosovému stolíku a inteligentným funkciám, ako sú Simple SEM pre automatizované snímanie a Zeromag pre intuitívnu navigáciu medzi optickým a SEM obrazom.

Mikroskop poskytuje vysoké rozlíšenie a je vybavený integrovaným systémom EDS (elektrónovo-disperzná analýza), ktorý umožňuje prvkovú analýzu a tvorbu máp distribúcie prvkov. Pre detailnejšiu analýzu poskytuje systém topografické merania, líniové-skenovanie, automatické zosnímanie celej alebo vybranej časti plochy vzorky či 3D mapovanie čo výrazne rozširuje možnosti charakterizácie skúmaných materiálov. Detekovateľný rozsah prvkov pri EDS analýze pokrýva prakticky celú periodickú tabuľku od bóru (B) až po urán (U). Napätie je možné nastaviť v rozmedzí 0,3 až 30 kV.

 JSM‑IT210 podporuje tiež merania v nízkovákuovom (LV) režime, ktorý umožňuje zobrazovať príp. analyzovať nevodivé, biologické, geologické a inak povrchovo neupravené vzorky bez potreby pokrývania vzorky vodivým materiálom. EDS systém je kompatibilný aj s nízkovákuovým režimom, čo umožňuje získavať kvalitné prvkové mapy aj nevodivých materiálov. Ponúka tiež stabilnú prevádzku s redukovaným nabíjaním povrchu, čo má významný vplyv pri analýze polymérov, skiel, minerálov či biologických tkanív.

V rámci laboratória ponúkame aj katodoluminiscenčnú (CL) analýzu, ktorá dopĺňa morfologické a chemické informácie z elektrónovej mikroskopie. Táto technika umožňuje študovať optické vlastnosti materiálov, identifikovať defekty kryštálovej mriežky, zonálnosť minerálov, ktoré sa v SEM/BSE obraze nemusia prejaviť. CL analýzu umožňuje kombinovaný špeciálny SEM/CL detektor.

Prístroj pri výskume minerálov, geologických a biologických vzoriek a iných materiálov umožňuje robiť:

  • fotografie v režime spätne odrazených elektrónov (BSE) zobrazujúce rozdielne chemické zloženie geomateriálov
  • fotografie povrchu v režime sekundárnych elektrónov (SEM)
  • analýzu chemického zloženia metódou EDS (energiovo-disperzná analýza) od bóru (B) až po urán (U)
  • mapy distribúcie prvkov v režime EDS
  • meranie topografie, líniové analýza, 3D mapovanie alebo plošné analýzy zloženia študovaného materiálu
  • zobrazenie v katodoluminiscencii (CL), katodoluminiscenčne aktívnych minerálov a materiálov

Prístroj je riadený softvérovou platformou InTouchScope™ s doplnkovým softvérovým balíkom  Smile View pre spracovanie fotografií, montáží, topografických údajov, analyzovaných EDS spektier.